IEC60068-2-32 Sistem pengujian tetes bagian bawah untuk pengujian tetes kemasan yang lebih besar

IEC60068-2-32 Sistem pengujian tetes bawah yang digunakan untuk pengujian tetes kemasan yang lebih besar

Gambaran Produk:

Ini sesuai dengan IEC60068-2-32. Sistem Uji Titik Bagian Bawah terutama digunakan untuk menilai dampak kejutan tetes pada kemasan dalam proses transportasi dan pemuatan dan pengungkapan yang sebenarnya,dan untuk menilai kekuatan dampak kemasan dalam proses penanganan dan rasionalisasi desain kemasan.

Sistem Uji Drop Bagian Bawah terutama digunakan untuk uji drop kemasan yang lebih besar. Mesin ini menggunakan garpu berbentuk "E" yang dapat bergerak ke bawah dengan cepat sebagai pembawa sampel,dan produk uji seimbang sesuai dengan persyaratan uji (permukaan, tepi, uji sudut). Selama uji, lengan bracket bergerak ke bawah dengan kecepatan tinggi, dan produk uji jatuh ke base plate dengan garpu "E",dan tertanam di piring bawah di bawah tindakan peredam kejut efisiensi tinggiSecara teoritis, mesin uji nol drop dapat dijatuhkan dari rentang tinggi nol, ketinggian drop diatur oleh pengontrol LCD,dan tes jatuh dilakukan secara otomatis sesuai dengan ketinggian yang ditetapkan.

Prinsip kontrol: Penggunaan desain rasional listrik yang diimpor mikro komputer, menyelesaikan desain jatuh bebas, tepi, sudut, permukaan.

Persyaratan Lingkungan:

1. Suhu di tempat: 5°C~+28°C ((suhu rata-rata dalam 24 jam ≤28°C);

2. kelembaban relatif: ≤85%RH;

3Kondisi pasokan listrik: satu fase tiga kabel;

4. rentang tegangan: AC220V;

5. rentang fluktuasi frekuensi yang diizinkan: (50±0.5) Hz;

6Resistensi grounding kabel PGND kurang dari 4 ohm.

7Pengguna diminta untuk mengkonfigurasi air atau power switch kapasitas yang sesuai untuk perangkat di lokasi instalasi, dan switch harus independen untuk penggunaan perangkat.

Parameter teknis utama: