IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian
| Applied Standard: | IEC 60950-1 | Applied Figure: | Gambar NAF.2 |
| Probe material: | Baja Tahan Karat | Applied Specimen: | Alat pemotong dokumen/media |
| Warranty: | 1 Tahun | Structure: | Lihat Gambar |
Dirancang secara profesional untuk mengevaluasi apakah bagian berbahaya di dalam bukaan slot atau celah penutup peralatan elektronik dan teknologi informasi dapat diakses oleh pengguna.
Probe pengujian keselamatan presisi ini sepenuhnya mematuhi IEC 62368-1:2018 Klausul 5.3.2, Klausul 8.5.4.3, Lampiran V.1.5, Gambar V.4, IEC 60950-1 Gambar NAF.2 (S5366), Gambar NAF.3 (S5370), serta persyaratan BS 60950.
Diproduksi secara ketat sesuai dengan dimensi gambar standar, probe ini banyak digunakan di:
- Pengujian peralatan teknologi informasi
- Pengujian peralatan audio dan video
- Pengujian keamanan perangkat komunikasi
- Verifikasi aksesibilitas selungkup listrik
- Pengujian kepatuhan laboratorium
- Evaluasi sertifikasi produk
Probe ini mengadopsi pegangan nilon tahan lama yang dikombinasikan dengan struktur probe yang dibuat dengan mesin presisi, memastikan pengujian aksesibilitas yang akurat dan masa pakai yang lama.
- Sepenuhnya Sesuai dengan Standar IEC:Dirancang berdasarkan angka standar IEC 62368-1 dan IEC 60950 untuk pengujian aksesibilitas yang akurat terhadap bukaan slot dan bagian berbahaya.
- Struktur yang Diproduksi dengan Presisi:Dimensi probe dibuat secara ketat sesuai dengan angka standar internasional untuk memastikan verifikasi kepatuhan yang andal.
- Pegangan Nilon Tahan Lama:Pegangan nilon berinsulasi ergonomis memberikan pengoperasian yang aman dan nyaman selama prosedur pengujian.
- Verifikasi Aksesibilitas yang Andal:Digunakan untuk menentukan apakah pengguna dapat secara tidak sengaja menyentuh komponen internal yang berbahaya melalui bukaan penutup.
- Cocok untuk Beberapa Produk Elektronik:Ideal untuk menguji peralatan IT, perangkat multimedia, produk komunikasi, dan peralatan listrik.
![]()
| Standar yang diterapkan | IEC 62368-1 |
| Klausul yang diterapkan | 5.3.2, V.1.5 dan gambar V.4 |
| Bahan penyelidikan | Baja tahan karat |
| Spesimen Terapan | Penghancur Dokumen/media |
Ketebalan probe bervariasi secara linier, dengan perubahan kemiringan pada titik-titik berikut di sepanjang probe:
| Jarak dari ujung probe, mm | Ketebalan pemeriksaan, mm |
|---|---|
| 0 | 2 |
| 12 | 4 |
| 180 | 24 |
Probe uji IEC 62368-1 ini banyak digunakan untuk:
- Pengujian keamanan peralatan teknologi informasi
- Pengujian kepatuhan peralatan audio/video
- Sertifikasi produk komunikasi
- Verifikasi perlindungan selungkup listrik
- Evaluasi keamanan elektronik konsumen
- Pengujian laboratorium pihak ketiga
Produk khasnya meliputi:
- Server dan komputer
- Pasokan listrik
- Perangkat jaringan
- Peralatan multimedia
- Produk telekomunikasi
- Perangkat elektronik pintar
![]()