rincian produk

Rumah > Produk >

IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian

Produk

Peralatan pengujian perangkat medis

Alat Uji Untuk Lab Listrik

Hubungi Kami

sales@sinuotek.com

+86 13527656435

Hubungi Sekarang

IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian

MOQ:	1
harga:	dapat dinegosiasikan
Kemasan Standar:	Karton
Periode pengiriman:	5 hari
Cara Pembayaran:	T/T
Kapasitas pasokan:	30 set per Bulan

Informasi detil

Deskripsi Produk

Informasi detil

Tempat asal

Nama merek

Sinuo

Sertifikasi

Calibration Certificate (Cost Additional)

Nomor model

SN2210-36

Standar Terapan:

IEC 60950-1

Gambar Terapan:

Gambar NAF.2

Bahan Penyelidikan:

Baja Tahan Karat

Spesimen yang Digunakan:

Alat pemotong dokumen/media

Jaminan:

1 Tahun

Struktur:

Lihat Gambar

Deskripsi Produk

IEC 60950-1 Gambar NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe Untuk Pengujian Kepatuhan

Dirancang secara profesional untuk mengevaluasi apakah bagian berbahaya di dalam bukaan slot atau celah penutup peralatan elektronik dan teknologi informasi dapat diakses oleh pengguna.

Ikhtisar Produk

Probe pengujian keselamatan presisi ini sepenuhnya mematuhi IEC 62368-1:2018 Klausul 5.3.2, Klausul 8.5.4.3, Lampiran V.1.5, Gambar V.4, IEC 60950-1 Gambar NAF.2 (S5366), Gambar NAF.3 (S5370), serta persyaratan BS 60950.

Diproduksi secara ketat sesuai dengan dimensi gambar standar, probe ini banyak digunakan di:

Pengujian peralatan teknologi informasi
Pengujian peralatan audio dan video
Pengujian keamanan perangkat komunikasi
Verifikasi aksesibilitas selungkup listrik
Pengujian kepatuhan laboratorium
Evaluasi sertifikasi produk

Probe ini mengadopsi pegangan nilon tahan lama yang dikombinasikan dengan struktur probe yang dibuat dengan mesin presisi, memastikan pengujian aksesibilitas yang akurat dan masa pakai yang lama.

Fitur Produk

Sepenuhnya Sesuai dengan Standar IEC:Dirancang berdasarkan angka standar IEC 62368-1 dan IEC 60950 untuk pengujian aksesibilitas yang akurat terhadap bukaan slot dan bagian berbahaya.
Struktur yang Diproduksi dengan Presisi:Dimensi probe dibuat secara ketat sesuai dengan angka standar internasional untuk memastikan verifikasi kepatuhan yang andal.
Pegangan Nilon Tahan Lama:Pegangan nilon berinsulasi ergonomis memberikan pengoperasian yang aman dan nyaman selama prosedur pengujian.
Verifikasi Aksesibilitas yang Andal:Digunakan untuk menentukan apakah pengguna dapat secara tidak sengaja menyentuh komponen internal yang berbahaya melalui bukaan penutup.
Cocok untuk Beberapa Produk Elektronik:Ideal untuk menguji peralatan IT, perangkat multimedia, produk komunikasi, dan peralatan listrik.

IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian 0

Spesifikasi Teknis

Standar yang diterapkan	IEC 62368-1
Klausul yang diterapkan	5.3.2, V.1.5 dan gambar V.4
Bahan penyelidikan	Baja tahan karat
Spesimen Terapan	Penghancur Dokumen/media

Bagian dari Dimensi

Ketebalan probe bervariasi secara linier, dengan perubahan kemiringan pada titik-titik berikut di sepanjang probe:

Jarak dari ujung probe, mm	Ketebalan pemeriksaan, mm
0	2
12	4
180	24

Aplikasi

Probe uji IEC 62368-1 ini banyak digunakan untuk:

Pengujian keamanan peralatan teknologi informasi
Pengujian kepatuhan peralatan audio/video
Sertifikasi produk komunikasi
Verifikasi perlindungan selungkup listrik
Evaluasi keamanan elektronik konsumen
Pengujian laboratorium pihak ketiga

Produk khasnya meliputi:

Server dan komputer
Pasokan listrik
Perangkat jaringan
Peralatan multimedia
Produk telekomunikasi
Perangkat elektronik pintar

IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian 1

Pertanyaan yang Sering Diajukan

Standar apa yang dipatuhi oleh pemeriksaan uji aksesibilitas ini?

Probe ini mematuhi persyaratan IEC 62368-1:2018, IEC 60950-1 Gambar NAF.2 dan NAF.3, dan BS 60950.

Apa tujuan utama penyelidikan ini?

Hal ini digunakan untuk menentukan apakah bagian dalam yang berbahaya di dalam bukaan slot atau celah penutup dapat disentuh oleh pengguna.

Produk apa yang bisa diuji?

Probe ini terutama digunakan untuk peralatan teknologi informasi, produk multimedia, perangkat komunikasi, dan peralatan elektronik lainnya.

Bahan apa yang digunakan untuk pegangannya?

Pegangannya terbuat dari bahan nilon berinsulasi yang tahan lama untuk pengoperasian yang aman dan nyaman.

Apakah probe diproduksi sesuai dengan angka standar?

Ya. Dimensi dan struktur probe diproduksi secara ketat sesuai dengan angka standar IEC.

Bisakah probe khusus disediakan?

Ya. Probe aksesibilitas yang disesuaikan dan solusi peralatan pengujian IEC dapat disediakan sesuai dengan kebutuhan pelanggan.

beralih daya tahan tester,

beralih mesin uji hidup,

plug socket tester

Produk yang Direkomendasikan

IEC 61058-1 Pasal 17 Switch Tester Ketahanan Dengan Kamar Suhu dan Kelembaban Dua Stasiun

Hubungi Sekarang

Video

Peralatan Uji Ketahanan Multi-Stasiun untuk Steker Soket dan Sakelar IEC 60884-1

Hubungi Sekarang

IEC 60884-1 Alat Uji Defleksi Terminal Tanpa Sekrup Daya Uji Maks. 100A

Hubungi Sekarang

BS 1363-1 Gambar 4a Steker Standar Steker Uji Tipe G Untuk Pengujian Kapasitas Pemutusan

Hubungi Sekarang

IEC 60811-1-4 Klausul 8.5 Alat Uji Dampak Suhu Rendah Untuk Uji Ketahanan Dampak Kabel

Hubungi Sekarang

UL 496 Test Probe Pin Baja Keras 1.98mm Pengukur Terminal Dorong 22.5N

Hubungi Sekarang

Alat Uji Tepi Tajam Mainan untuk Kepatuhan Keamanan Mainan EN71-1 Peralatan Pengujian Produk Anak-anak

Hubungi Sekarang

rincian produk

Produk

Alat Uji Peralatan Listrik

Laboratorium Efisiensi Energi

Peralatan Pengujian Kendaraan

Baterai Peralatan Pengujian

Ganti Penguji Kehidupan

LED Testing Equipment

Alat Uji Kualitas Air

Uji lingkungan Chamber

Ruang Uji Mudah Terbakar

Mesin Uji MCB

Peralatan pengujian perangkat medis

Peralatan Uji IEC 62368

Alat Uji Untuk Lab Listrik

IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian

MOQ:	1
harga:	dapat dinegosiasikan
Kemasan Standar:	Karton
Periode pengiriman:	5 hari
Cara Pembayaran:	T/T
Kapasitas pasokan:	30 set per Bulan

Informasi detil

Deskripsi Produk

Informasi detil

Tempat asal

Cina

Nama merek

Sinuo

Sertifikasi

Calibration Certificate (Cost Additional)

Nomor model

SN2210-36

Standar Terapan:

IEC 60950-1

Gambar Terapan:

Gambar NAF.2

Bahan Penyelidikan:

Baja Tahan Karat

Spesimen yang Digunakan:

Alat pemotong dokumen/media

Jaminan:

1 Tahun

Struktur:

Lihat Gambar

Kuantitas min Order:

Harga:

dapat dinegosiasikan

Kemasan rincian:

Karton

Waktu pengiriman:

5 hari

Syarat-syarat pembayaran:

T/T

Menyediakan kemampuan:

30 set per Bulan

Deskripsi Produk

IEC 60950-1 Gambar NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe Untuk Pengujian Kepatuhan

Dirancang secara profesional untuk mengevaluasi apakah bagian berbahaya di dalam bukaan slot atau celah penutup peralatan elektronik dan teknologi informasi dapat diakses oleh pengguna.

Ikhtisar Produk

Diproduksi secara ketat sesuai dengan dimensi gambar standar, probe ini banyak digunakan di:

Pengujian peralatan teknologi informasi
Pengujian peralatan audio dan video
Pengujian keamanan perangkat komunikasi
Verifikasi aksesibilitas selungkup listrik
Pengujian kepatuhan laboratorium
Evaluasi sertifikasi produk

Probe ini mengadopsi pegangan nilon tahan lama yang dikombinasikan dengan struktur probe yang dibuat dengan mesin presisi, memastikan pengujian aksesibilitas yang akurat dan masa pakai yang lama.

Fitur Produk

Sepenuhnya Sesuai dengan Standar IEC:Dirancang berdasarkan angka standar IEC 62368-1 dan IEC 60950 untuk pengujian aksesibilitas yang akurat terhadap bukaan slot dan bagian berbahaya.
Struktur yang Diproduksi dengan Presisi:Dimensi probe dibuat secara ketat sesuai dengan angka standar internasional untuk memastikan verifikasi kepatuhan yang andal.
Pegangan Nilon Tahan Lama:Pegangan nilon berinsulasi ergonomis memberikan pengoperasian yang aman dan nyaman selama prosedur pengujian.
Verifikasi Aksesibilitas yang Andal:Digunakan untuk menentukan apakah pengguna dapat secara tidak sengaja menyentuh komponen internal yang berbahaya melalui bukaan penutup.
Cocok untuk Beberapa Produk Elektronik:Ideal untuk menguji peralatan IT, perangkat multimedia, produk komunikasi, dan peralatan listrik.

IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian 0

Spesifikasi Teknis

Standar yang diterapkan	IEC 62368-1
Klausul yang diterapkan	5.3.2, V.1.5 dan gambar V.4
Bahan penyelidikan	Baja tahan karat
Spesimen Terapan	Penghancur Dokumen/media

Bagian dari Dimensi

Ketebalan probe bervariasi secara linier, dengan perubahan kemiringan pada titik-titik berikut di sepanjang probe:

Jarak dari ujung probe, mm	Ketebalan pemeriksaan, mm
0	2
12	4
180	24

Aplikasi

Probe uji IEC 62368-1 ini banyak digunakan untuk:

Pengujian keamanan peralatan teknologi informasi
Pengujian kepatuhan peralatan audio/video
Sertifikasi produk komunikasi
Verifikasi perlindungan selungkup listrik
Evaluasi keamanan elektronik konsumen
Pengujian laboratorium pihak ketiga

Produk khasnya meliputi:

Server dan komputer
Pasokan listrik
Perangkat jaringan
Peralatan multimedia
Produk telekomunikasi
Perangkat elektronik pintar

IEC 60950-1 Fig NAF.2 Wedge Probe Jointed Accessibility Test Probe untuk pengujian kesesuaian 1

Pertanyaan yang Sering Diajukan

Standar apa yang dipatuhi oleh pemeriksaan uji aksesibilitas ini?

Probe ini mematuhi persyaratan IEC 62368-1:2018, IEC 60950-1 Gambar NAF.2 dan NAF.3, dan BS 60950.

Apa tujuan utama penyelidikan ini?

Hal ini digunakan untuk menentukan apakah bagian dalam yang berbahaya di dalam bukaan slot atau celah penutup dapat disentuh oleh pengguna.

Produk apa yang bisa diuji?

Probe ini terutama digunakan untuk peralatan teknologi informasi, produk multimedia, perangkat komunikasi, dan peralatan elektronik lainnya.

Bahan apa yang digunakan untuk pegangannya?

Pegangannya terbuat dari bahan nilon berinsulasi yang tahan lama untuk pengoperasian yang aman dan nyaman.

Apakah probe diproduksi sesuai dengan angka standar?

Ya. Dimensi dan struktur probe diproduksi secara ketat sesuai dengan angka standar IEC.

Bisakah probe khusus disediakan?

Ya. Probe aksesibilitas yang disesuaikan dan solusi peralatan pengujian IEC dapat disediakan sesuai dengan kebutuhan pelanggan.

Tag: